ISO 15792-1 AMD 1-2011 焊接消耗品试验方法.第1部分:铁,镍和镍合金中全焊金属试样试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-28 19:04:02   浏览:8548   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Weldingconsumables-Testmethods-Part1:Testmethodsforall-weldmetaltestspecimensinsteel,nickelandnickelalloys;Amendment1
【原文标准名称】:焊接消耗品试验方法.第1部分:铁,镍和镍合金中全焊金属试样试验方法
【标准号】:ISO15792-1AMD1-2011
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2011-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC44
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:All-weldmetals;Arcwelding;Dimensions;Materials;Mechanicaltesting;Nickel;Nickelalloys;Preparation;Production;Samples;Samplingmethods;Specification(approval);Specimenpreparation;Steels;Testspecimens;Testing;Weldmetalsample;Weldingengineering;Weldingfillermetals
【摘要】:
【中国标准分类号】:J33
【国际标准分类号】:25_160_20
【页数】:1P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:AMENDMENT1Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part19:Dieshearstrengthtest
【原文标准名称】:修改件1.半导体器件.机械和环境试验方法.第19部分:剪切强度试验
【标准号】:IEC60749-19AMD1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2010-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:芯片;气候;气候试验;组件;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;外壳;环境测试;集成电路;机械测试;半导体器件;半导体;剪切强度;材料强度;试验
【英文主题词】:Chips;Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Semiconductordevices;Semiconductors;Shearstrength;Strengthofmaterials;Testing
【摘要】:AMENDMENT1Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part19:Dieshearstrengthtest
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:地质仪器术语 地质遥感遥测仪器术语
中标分类:
替代情况:调整为DZ/T 0121.12-1994
发布日期:
实施日期:1990-07-01
首发日期:
作废日期:
出版日期:
页数:31页
适用范围

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