ASTM F 1192-2000 半导体器件重离子照射感应产生的单件信号现象的测量标准指南
作者:标准资料网
时间:2024-05-21 00:21:22
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【英文标准名称】:StandardGuidefortheMeasurementofSingleEventPhenomena(SEP)InducedbyHeavyIonIrradiationofSemiconductorDevices
【原文标准名称】:半导体器件重离子照射感应产生的单件信号现象的测量标准指南
【标准号】:ASTMF1192-2000
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:11P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件重离子照射感应产生的单件信号现象的测量标准指南
【标准号】:ASTMF1192-2000
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:11P;A4
【正文语种】:英语
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